NASA-ina letjelica u utorak u misiji prikupljanja prvih uzoraka s asteroida

NASA-ina svemirska letjelica u utorak će pokušati prikupiti prvu zbirku uzoraka s jednog asteroida. Letjelica Osiris-Rex, što je skraćenica od Origins, Spectral Interpretation, Identification of Resource, Security-Regolith Explorer, u utorak bi trebala prikupiti uzorke s asteroida Bennu i ponijeti ih na Zemlju zbog daljnjih istraživanja.

Bennu je od Zemlje udaljen 290 milijuna kilometara i mogao bi se opasno približiti našem planetu u sljedećem stoljeću, premda su šanse za udar malene.

Osiris-Rex, koji je lansiran 2016. godine i veličine je većeg kombija, pokušat će se približiti asteroidu na nekoliko metara, a potom će uz pomoć robotičke ruke nazvane Tagsam (Touch-And-Go Sample Acquisition Mechanism) prikupiti uzorke.

Tagsam će na pet sekunda dotaknuti asteroid, izbaciti pritom dušik pod pritiskom da bi uzburkao njegovu površinu te usisati uzorke teške između 60 i 2000 grama prije nego što se udalji.

Na NASA-inim internetskim stranicama može se pratiti prijenos uživo približavanja svemirske letjelice asteroidu, a započet će u 21.00 sat po GMT-u ili 23.00 po našem lokalnom vremenu.

Zbog udaljenosti je komunikacijama i naredbama potrebno oko 16 minuta da stignu do Osiris-Rexa.

Očekuje se da će se letjelica s uzorcima s Bennua na Zemlju vratiti u rujnu 2023. godine.

U NASA-i se nadaju da će misija vrijedna milijardu dolara otkriti i tajnu porijekla našega Sunčevog sustava, kao i o izvoru vode i organskih molekula pronađenih na Zemlji.

 

Visoko.co.ba/federalna.ba

Komentari

komentara

Ako želite preuzeti tekst ili dio teksta čiji je autor Visoko.co.ba, dužni ste navesti naš portal kao izvor autorskog teksta! Isto se odnosi i na fotografije i video materijale čiji je autor portal Visoko.co.ba ili materijale koji su dati portalu na korištenje.

Član 14. Kodeksa za štampu i online medije BiH: Značajna upotreba ili reprodukcija materijala zaštićenog autorskim pravima zahtijeva izričitu dozvolu nositelja prava, osim ako dozvola nije navedena u samom materijalu.